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产品名称:GD90辉光放电质谱仪

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产品特点:GD90辉光放电质谱仪作为一种固体样品的直接分析方法,被认为是目前为止唯一的同时具有最广泛的分析元素范围和足够灵敏度的元素分析方法,已成为固体材料多元素分析尤其是高纯材料分析的强有力的工具。直接对固体进行分析避免了将固体转化成溶液时因在溶解、稀释等过程中造成的玷污和灵敏度降低,而且该方法对样品的分析面积大,所得数据结果有好的代表性。

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GD90辉光放电质谱仪的详细资料:

GD90辉光放电质谱仪

Autoconcept GD90是一个专为高精度元素分析所设计的高分辨辉光放电质谱仪。此辉光放电质谱仪(GDMS)提供了固体金属与绝缘体的直接分析检测。它具有非常宽的元素覆盖范围,可得到超过70种元素的有效数据,灵敏度高,轻元素重元素均可。

    GDMS技术使原子化(碎片化)过程与离子化过程分开进行,故而可容易的对ppbppt级别的痕量杂质进行测量。此法还使得GDMS技术拥有最小的基体效应且无须特定参照材料。它可对金属与合金进行全扫描分析,可对半导体进行整体的测量分析,可对多层结构与镀层进行深度剖析。是包括金属、合金、半导体以及绝缘体(须配RF源)等高纯材料的生产与质量控制的理想工具。

GD90辉光放电质谱仪的主要特性:

·高分辨率,特别是对于有干扰离子存在的测定而言十分重要。

·广泛的元素涵盖范围,软件中包括70个元素相关的干扰离子数据。

·由于原子化和离子化过程发生在不同区域,带来可忽略的基体效应。

·低至亚ppb级的定量数据。

·具有深度剖面同位素比值分析能力。

·最少的样品制备过程。

GD90辉光放电质谱仪应用领域:

辉光放电质谱仪--AUTOCONCEPT GD90              

半导体:

几乎所有的电子、光学与光电设备都需要高纯度半导体。此类半导体的电学性质依赖于其中的杂质成分。此类材料只有达到极端低的杂质水平才能保证终端产品(例如微处理器与微型器件)的性能。

GDMS有助于半导体的整体调查分析,可对杂质进行定量鉴定,可达到痕量与超痕量水平。

核能:

在核技术与核研究中,科研人员对同位素比例进行精准的测量有着极大的兴趣。被广泛接受的方法是热电离质谱(TIMS)。在此方法中,样品必须被溶解,需要在分析前对感兴趣的分析物进行化学分离。

GDMS同样被用于含核材料样品的同位素鉴定。通过对比,GDMS被证明是在精准度要求的前提下对BLi以及U同位素丰度鉴定的优势性技术。GDMS有着减少样品制备过程的优势。

GD90辉光放电质谱仪          

高纯度金属:

在金属与合金的大批量生产过程中,痕量杂质的总量不易控制。但为了控制其力学、化学、电学与其他高级性质,受控添加痕量元素以及提纯过程都是减少材料杂质含量所需要的。

GDMS有助于成品中杂质的检出与鉴定,以确保由此金属制成的系统的质量与性能。

合金

合金与超合金试生产高性能机械-例如涡轮机-的关键材料。由于此类机械通常在高温高压下运行,即使痕量元素成分发生轻微变化都有可能导致灾难性后果。

GDMS在鉴定产品的元素组成上非常理想,用以保证机械系统的最优化性能。

辉光放电质谱法作为一种固体样品的直接分析方法,被认为是目前为止唯一的同时具有最广泛的分析元素范围和足够灵敏度的元素分析方法,已成为固体材料多元素分析尤其是高纯材料分析的强有力的工具。直接对固体进行分析避免了将固体转化成溶液时因在溶解、稀释等过程中造成的玷污和灵敏度降低,而且该方法对样品的分析面积大,所得数据结果有好的代表性。

GD90辉光放电质谱仪优势分析应用领域: 

 金属及合金材料

包括高纯金属,溅射靶材,稀贵金属,超级合金等材料的痕量杂质的半定量和定量分析,同时可分析C、N、O等轻元素。 

 半导体材料

包括硅片,CdTe,GaAs及其他多种高纯电子材料的杂质分析。 

 无机非金属材料

包括陶瓷粉末,玻璃,稀土氧化物等材料分析。 

薄层分析,深度分布剖面分析等

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